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Führen sie Profil- und Rauheitsmessungen an fast jedem beliebigen Material durch- Das 3D-Laserscanningmikroskop der VK-X-Serie
Aus den Unternehmen
Führen sie Profil- und Rauheitsmessungen an fast jedem beliebigen Material durch- Das 3D-Laserscanningmikroskop der VK-X-Serie
24.08.2012
Die neuen 3D-Laserscanningmikroskope der VK-X-Serie der Firma Keyence vereinen die Fähigkeiten von optischer Mikroskopie, REM und kontaktlosen Rauheitsmessgeräten. Die neuste Entwicklung – das VK-X 200 – verfügt über eine noch nicht dagewesene 0,5 nm feine Höhenachsenauflösung mit einem Vergrößerungsbereich von 200x bis 24.000x. Die Einsatzmöglichkeit und die einfache Handhabung des Systems wurden durch das Hinzufügen der AI-Scan-Funktion noch weiter verbessert. Durch einen einzigen Mausklick kann der Benutzer seine Probe vollautomatisiert abbilden und anwenderunabhängig vermessen.
Die Laserscanningmikroskope der VK-X-Serie wurden so konzipiert, um mit hochaufgelöster 16 Bit Farbbildgebung und Profilvermessung im Nanometerbereich, die Leistungsgrenzen herkömmlicher Technologien für Bildgebung und Profilvermessung zu überwinden. Dabei scannt ein Kurzwellenlaser über die Probenoberfläche und liefert Daten zu Profilverläufen, Rauheit und Dicke von Schichten. Selbst sehr steile Flanken stellen kein Hindernis mehr dar. Die Kombination eines Kurzwellenlasers mit einem überragend sensitiven 16-Bit Photomultiplier ermöglicht es Bilder und Messdaten von fast jedem beliebigen Material und jeder Topographie zu erfassen.
Die AI-Scan-Funktion, entwickelt um den Scan-Prozess zu automatisieren, macht die Bedienung des VK-X zum Kinderspiel. Der Benutzer platziert seine Probe auf dem Objekttisch und drückt eine Taste zur automatischen Messung. Das System übernimmt automatisch die optimale Einstellung der Sensorempfindlichkeit sowie die Einstellung der oberen und unteren Grenze des zu untersuchenden Höhenbereichs. AI-Scan versetzt auch den unerfahrenen Benutzer in die Lage, schnell und einfach präzise Vermessungen und hochaufgelöste Bilder zu machen.
Zudem beinhaltet das System eine neue WIDE-Scan-Funktion (Panoramabild) für größere Bildbereiche. Hier arbeitet das VK-X bis zu 8x schneller als herkömmliche Laserscanningmikroskope. Weiterhin verfügt das System über einen extrem schnellen Autofokus und eine digitale Auflösung von bis zu 21.6 Megapixel.
Für Spezifikationen und Einsatzmöglichkeiten des VK-X200 3D-Laserscanningmikroskops, besuchen Sie bitte
www.digitalmikroskop.de
Für weitere Produktinformationen kontaktieren Sie bitte die Marketingabteilung, Frau Katharina Schenk, Keyence Deutschland, Siemensstraße 1, 63263 Neu-Isenburg, Tel:+49 (0)6102 36890, Fax: +49(0)6102 3689100, Email: info@keyence.de









